当前位置:

OFweek半导体照明网

LED外延/芯片

正文

低功率LED可靠性试验项目

导读: 一般来说,LED 的可靠性是以半衰期(即光输出量减少到最初值一半的时间)来表征,大概在1万到10万小时之间LED的可靠性测试包括静电敏感度特性、寿命、环境特性等指标的测试。

一般来说,LED 的可靠性是以半衰期(即光输出量减少到最初值一半的时间)来表征,大概在1万到10万小时之间LED的可靠性测试包括静电敏感度特性、寿命、环境特性等指标的测试。 静电敏感度特性是指LED能承受的静电放电电压。某些LED由于电阻率较高,且正负电极距离很短,若两端的静电电荷累积到一定值时,这一静电电压会击穿PN结,严重时可将PN结击穿导致LED失效,因此必须对LED的静电敏感度特性进行测试,获得LED的静电放电故障临界电压。目前一般采用人体模式、机器模式、器件充电模式来模拟现实生活中的静电放电现象。

为了观察LED在长期连续使用情况下旋光性能的变化规律,需要对LED进行抽样试验,通过长期观察和统计获得LED寿命参数。对于LED环境特性的试验往往采用模拟LED在应用中遇到的各类自然侵袭,一般有:高低温冲击试验、湿度循环试验、潮湿试验、盐雾试验、沙尘试验、辐照试验、振动和冲击试验、跌落试验、离心加速度试验等。一般测试低功率LED的可靠性具体项目有以下几点:

1.焊锡耐热性:260℃±5℃,5Sec,外观和电气特性无异常。

2.温度循环试验:85℃(30min)---转换5min---—40℃(30min) 为1cycle, 需做50cycle,外观和电气特性无异常。

3.热冲击试验:100℃(5min)---转换10sec---—10℃(5min) 1cycle, 需做50cycle,外观和电气特性无异常。

4.高温储存试验:在温度100℃环境下放置1000Hrs,外观和电气特性无异常。

5.低温储存试验:在温度—40℃环境下放置1000Hrs,外观和电气特性无异常。

6.高温高湿放置试验:在温度85℃/相对湿度85%RH环境下放置1000Hrs,外观和电气特性无异常。

7.引脚拉力试验:依据引脚截面积的大小施加重力/30Sec,引脚须无拉脱及松动,电气特性无异常。

8.引脚弯折试验:依据引脚截面积的大小施加重力,弯折±90度(距本体3mm处)2回,引脚须无折断及松动,电气特性无异常。

9.寿命试验:施加IF电流,连续工作1000Hrs,外观和电气特性无异常。

备注:在环境与寿命可靠度试验后,需在25℃下放置24Hrs再测试电气特性。

责任编辑:
免责声明: 本文仅代表作者个人观点,与 OFweek半导体照明网 无关。其原创性以及文中陈述文字和内容未经本站证实, 对本文以及其中全部或者部分内容、文字的真实性、完整性、及时性本站不作任何保证或承诺,请读者仅 作参考,并请自行核实相关内容。

我来说两句

(共0条评论,0人参与)

请输入评论

请输入评论/评论长度6~500个字

您提交的评论过于频繁,请输入验证码继续

暂无评论

暂无评论

  • 照明设计
  • 照明结构
  • 照明工程
  • 猎头职位
更多
文章纠错
x
*文字标题:
*纠错内容:
联系邮箱:
*验 证 码: