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LED常规性老化试验对比

导读: 一般来说,尤其是大功率LED在初始点亮阶段光度都会有一定的衰减,LED封装厂为了提供给应用端厂商发光稳定的产品,或者是应用端厂商家为了获得稳定的LED材料

一般来说,尤其是大功率LED在初始点亮阶段光度都会有一定的衰减,LED封装厂为了提供给应用端厂商发光稳定的产品,或者是应用端厂商家为了获得稳定的LED材料,通常都会做一些老化试验。当然LED老化试验有多种方式,如常规性老化、过电流冲击破坏性试验等等。

 

LED厂商通常会用以下几种方式进行常规性老化:

 

1、多颗管串联老化:恒压老化电路和恒流老化电路
2、多颗管并联老化
3、多颗管串并联老化:串并恒压老化和串并恒流老化
4、单管恒流老化

 

比较以上4种老化方式, 1、3种方式中只要有一颗LED出现质量故障,比如LED短路或者断路都会影响别的LED的工作电流参数。第2种方式优于1、3种,任一颗LED特性变化不会影响到别的LED老化参数,但事实上靠电阻限流的方式是不可靠的,电阻本身阻值漂移和LED自身电压特性变化都会严重影响LED参数。显然,第4种单管恒流老化抓住了LED电流工作特性,是最科学的LED老化方式。

 

老化在试验过程中应该是一个非常重要的过程,但在很多企业往往会被忽视,不能进行正确有效的老化,后面对LED本身所进行的包括亮度、波长等所有参数的分析都将不确定。过电流冲击性老化也是厂家经常使用的一种老化手段,通常使用频率可调、电流可调并且占空比可调的恒流源进行此类老化,以期待短时间内判断LED的质量及预期寿命。

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