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简析LED灯具可靠性测试方法及成本控制问题

2011-10-12 10:50
空白小盒子
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  (1)本质失效、从属失效


  LED器件失效一般分为二种:本质失效和从属失效。本质失效指的是LED芯片引起的失效,又分为电漂移和离子热扩散失效。从属失效一般由封装结构材料、工艺引起,即封装结构和用的环氧、硅胶、导电胶、荧光粉、焊接、引线、工艺、温度等因素引起的。


  (2)十度法则


  某些电子器件在一定温度范围内,温度每升高10℃,其主要技术指标下降一半(或下降1/4)。实践证明,LED器件热沉温度在50℃至80℃时,LED寿命值基本符合十度法则。最近也有媒体报道:LED器件温度每上升2℃,其寿命下降10%,当温度从63℃上升至74℃时,平均寿命下降3/4.因为器件封装工艺不同,完全可能出现这种现象。


  (3)寿命的含义


  LED寿命是指在规定工作条件下,光输出功率或光通量衰减到初始值的70%的工作时间,同时色度变化保持在0.007内。


  LED平均寿命的意义是LED产品失效前的工作时间的平均值,用MTTF来表示,它是电子器件最常用的可靠性参数。


  可靠性试验内容包括可靠性筛选、环境试验、寿命试验(长期或短期)。我们这里所讨论的只是寿命试验,其他项目暂不考虑。

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