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蓝菲光学新推出illumia®光源测量系统

2012-07-19 14:14
kumsing
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  蓝菲光学新型 illumia® 光源测量系统可以满足各种应用及预算的需求

  蓝菲光学(Labsphere)近日推出 illumia® 和 illumia®pro 系列 LED 和光源测量系统。这款新系统在测量 LED、LED 阵列和固态及传统照明产品的热学、光学和电学特性上有很大的灵活性。

  illumia 系统有四种光谱仪,积分球尺寸从25厘米至195厘米可供选择,较高的可定制化程度能够满足各种预算或应用需求。光谱仪较宽的动态范围意味着单一的积分球系统即可测量宽范围的照明亮度。

  illumia 系统可以测量总光谱通量、光通量、辐射通量、色度、色温和显色性、峰值波长、主波长、电流、电压和光效,再加上 TEC 温度控制和监测部件,illumia pro 可以测量 LED 所有的热学、光学和电学特性。

  蓝菲光学的 MtrX-SPEC 软件能够在几毫秒之内得到符合全球标准和测量几何要求的光谱结果。蓝菲光学的符合 NIST 溯源、获得 NVLAP®认证的校准标准灯,允许制造商为迎合全球市场作准备而在公司内部进行热学、光学、电学特性测试,加快从设计到投放市场的产品开发速度。

  所有系统都使用蓝菲光学 Spectraflect® 高反射率漫反射涂层,提供近乎完美的漫反射以实现最佳的测量精度。附加的配件可以集成进 illmia 系统来满足客户所需特定的应用结果。

声明: 本文由入驻维科号的作者撰写,观点仅代表作者本人,不代表OFweek立场。如有侵权或其他问题,请联系举报。

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