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LED加速寿命和可靠性试验

2012-07-01 08:10
Minor昔年
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  3. 北美体系和IEC系统对LED寿命和寿命试验方法的要求

  北美体系和IEC系统在对LED产品的寿命要求和试验方法方面都有所区别,但针对于LED灯具寿命的评估,二者都提出直接老化测试灯具,或根据封装LED、LED模块等的老化试验进行推算。

  3.1 北美体系

  如表1所示,Energy Star将对LED灯具寿命的试验方法分为选项1和选项2,其中,选项1是通过测试光源推导灯具的寿命;而选项2仅适用于光源和灯具不可分的一体化灯具,直接测试灯具的光通维持率。选项1,L70(6k)的表示是指,利用6000h(6K)的老化测试推导出的流明维持寿命L70的时间。

  表1:美国“Energy Star(能源之星)”对LED灯具寿命的要求

美国能源之星对LED灯具寿命的要求

  现对LM-80 和TM-21两个标准的要求总结如下:

  适用范围:LED封装、模块、阵列等;

  考察对象:只考察光通维持寿命,即缓变失效因素

  老化温度:指定点壳温(Ts)为55℃,85℃和第三个指定温度,三个温度覆盖灯具中LED光源的Ts温度。

  老化时间:6000h,推荐10000h;

  样本数量要求及其与外推寿命时间的关系:20个以上样品,外推寿命最高为老化时间的6倍;10-19个,外推寿命最高为老化时间的5.5倍;

  光色参数测试时间:至少每1000h测量一次;

  对突然失效的处理:观察记录,调查确认突然失效是因为光源本身原因;

  记录颜色衰变:有;

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