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LED加速寿命和可靠性试验

2012-07-01 08:10
Minor昔年
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  数据记录:每个LED的光通维持、中间值、标准偏差、最小和最大光通维持率值;

  曲线拟合:1. 以初始值为1,归一化光通维持率;

  2. 在每个测量点,求得测试样品归一值的平均值;

  3. 数据要求:不采用小于1000h内的测量数据;老化6000h-10000h,至少用5000h的数据;大于10000h,用最后50%的数据。

  外推计算:推荐指数模型。

  3.2 IEC体系

  IEC体系中用Lx Fy 来表征LED产品的寿命,其中,Lx表示光通量维持率,如L70;Fy表示失效率,包括缓变失效率By和瞬变失效率Cy。例如:L70F50为30000h是指:50%的模块在30000h后的光通维持率在70%以下。

  对于普通照明用的白光LED产品,IEC并不强调对声称的寿命进行验证,而是对限定时间的流明维持率进行分级。

  IEC 中对LED模块和灯具的光通维持率测试如表2所示。特别注意的是IEC体系中,LED模块或灯具的瞬变失效和缓变失效是要在最终的Fy指标上体现出来的。对于一组LED模块,按试验样品20个计算,若声称F50,则至少n-2个模块通过;若声称F10,则n个模块全部通过试验。

  老化试验中的温度也特别值得关注。LED模块老化应在外壳指定点为Tp温度下老化,相当于北美体系中的Ts;而灯具则在环境温度Tq下考察其性能,并且应确保在声称的Tq max下, 模块温度Tp不会超过。

  表2:IEC体系对LED模块和灯具的光通维持率测试要求

IEC体系对LED模块和灯具的光通维持率测试要求

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