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高亮度LED的高精度高性价比测试

2012-08-08 11:06
龙凰
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  光学测试

  正向偏置电流也用于光学测试,因为电子电流与发光的强弱密切相关。通过在待测器件附近放一个光电二极管或者累计球捕捉发出的光子可以测出光强度(opticalpower)。然后将光转换成电流,利用安培计或者源测量仪器的一个通道测量电流的大小。

  在很多测试应用中,二极管的电压和发出的光可以利用大小固定的电流源同时测出来。此外,利用分光计可以在同样大小的驱动电流下测出诸如光谱输出之类的详细参数。

  反向击穿电压测试

  对LED加载一个反向偏置电流可以测出反向击穿电压(VR)。测试电流的大小应该设置为当电流稍微增加时测出的电压值不再明显增大的位置。当电压高于这个电压值时,反向偏置电流的大幅增加导致反向电压变化不明显。这个参数指标通常是一个最小值。在测试VR时要在一定的时间内加载一个小的反偏电流,然后测量LED上的电压降。测量结果的大小范围通常为几十伏。

  漏电流测试

  一般地,漏电流(IL)的测量使用中等大小的电压(几伏到几十伏)。漏电流测试测量的是当加载的反向电压低于击穿电压时LED上泄漏的小电流。在生产过程中确保漏流不超过一定的阈值是漏流测量的常用做法,也是隔离测量更普遍的做法。其中有两个原因。第一,低电流测量需要较长的稳定时间,因此它们需要更长的时间才能完成。第二,环境干扰和电噪声对低值信号具有较大的影响,因此需要额外的屏蔽措施。这些额外的屏蔽措施增加了测试夹具的复杂性,并且可能干扰自动机械手的操作。

  智能仪器增大LED生产测试产能

  过去,在很多LED生产测试系统中人们常常采用PC机控制测试的各个方面。换句话说,在测试序列的每个组成部分中,每个测试必须对信号源和测试仪器分别配置,执行所需的操作,然后将数据返回给控制PC。控制PC然后进行pass/fail判断并执行相应的操作对DUT进行分拣。发送和执行的每条命令都浪费了宝贵的测试时间,降低了产能。显然,在这类以PC为中心的测试结构中,大部分测试序列时间都被PC和测试仪器之间的通信所消耗了。

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