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详解:平行测试可将LED测试成本降低39%~43%

2015-01-21 11:41
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  来自德国Instrument Systems公司的Hoeh博士表示典型的LED测试系统由源仪表单元(SMU)、分光辐射谱仪、光学探针(积分球)及其他附件和软件组成。在进行测试的过程中,可以从操作时间、电气测量时间、光学测量时间及软件处理时间这几方面来提升测试效率。

  在采用序列测试的情况下,对某一被测设备(DUT)完成测试后才开始进行下一个DUT的测试。而在平行测试当中,可以实现对n个DUT同一时间平行进行电气测量,之后再按序列进行光学测量。

  在实践当中,根据“DOE 2012年8月制造路线图”所发布的成本分析,每件DUT的封装测试成本为0.01美元。而根据Instrument Systems公司的总体拥有成本(TCO)计算,每测试两次(芯片级和封装级)的成本仅为0.0046美元。

  Hoeh博士还表示4/8通道的平行测试能够将测试成本降低39%/43%。这样,即使LED生产商面临降低成本的压力,仍可以采用高质量的测试设备。

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