远方光电宋立：Mini-LED与Micro-LED相关检测技术最新进展
2020-05-16 08:55
中国半导体照明网
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当前，新型冠状病毒仍在持续，对产业及企业造成了一定程度的影响，也牵动着各行各业人们的心。在此形势下，中国半导体照明网、极智头条，在国家半导体照明工程研发及产业联盟、第三代半导体产业技术创新战略联盟指导下，开启疫情期间知识分享，帮助企业解答疑惑。助力我们LED照明企业和产业共克时艰。
本期，极智课堂邀请到杭州远方光电信息股份有限公司光电科学研究院研究员、宋立博士带来了题为“Mini－LED与Micro－LED相关检测技术最新进展”的精彩主题分享。
Mini LED及Micro－LED芯片的发展及应用
从传统LED、小间距LED到Mini LED、Micro LED等，LED芯片的发展速度非常快，对于Mini LED、Micro LED的定义，业界多有讨论，目前较多的是根据尺寸进行定义。报告针对Mini LED、Micro LED在显示领域的应用特性进行了分析，并与现有的显示技术进行了对比。
Mini LED及Micro－LED芯片的测量
现行相关测量标准有：SJ／T 11399－2009 《半导体发光二极管芯片测试方法》，SJ／T 11394－2009 《半导体发光二极管测试方法》，GB／T 36613－2018《发光二极管芯片点测方法》，CIE 235：2019，CIE 238：2020，CIE 127－2007等，暂无专门针对Mini－LED与Micro－LED测量标准出台。
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